BS EN 60749-40-2011 半导体装置.机械和气候试验方法.利用变形测量器进行的板级落锤试验法

作者:标准资料网时间:2024-05-24 23:48:30 浏览:9398 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices.Mechanicalandclimatictestmethods.Boardleveldroptestmethodusingastraingauge
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.利用变形测量器进行的板级落锤试验法
【标准号】:BSEN60749-40-2011
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2011-09-30
【实施或试行日期】:2011-09-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Definitions;Droptests;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Errordetection;Heightoffall;Integratedcircuits;Materials;Measurement;Measuringtechniques;Mechanicaltesting;Parameters;Powerelectronics;Printed-circuitboards;Qualityassurance;Reliability;Resistancestraingauges;Semiconductordevices;Semiconductors;Specimens;Surfacemounting;Testing;Testingconditions;Testingdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:26P;A4
【正文语种】:英语

下载地址: 点击此处下载

返回跳至顶部

上一篇: BS EN 61300-3-22-2011 纤维光学互连器件和无源元件.基本试验和测量规程.试验和测量.金属加固环压缩力
下一篇: BS ISO/IEC 19794-5-2011 信息技术.生物统计学数据交换格式.面部图像数据

标准名称：	轨道交通装备制造业涂装加工劳动定额
替代情况：	替代LD/T 71.14-1994
发布部门：	人力资源和社会保障部
发布日期：	2009-09-07
实施日期：	2009-10-01
首发日期：
作废日期：
主管部门：	人力资源和社会保障部
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	2009-10-01