ASTM F 805-1983 用无触点干涉测量技术测量胶片表面平整度的试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-04-30 08:16:15  浏览:8694   来源:标准资料网

【英文标准名称】:TestMethodforPhotoplateSurfaceFlatnessbyInterferometricNoncontactTechnique
【原文标准名称】:用无触点干涉测量技术测量胶片表面平整度的试验方法
【标准号】:ASTMF805-1983
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1983
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:平整度(表面);试验;表面;干涉仪;电子工程
【英文主题词】:surfaces;flatness(surface);electronicengineering;interferometers;testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:G80
【国际标准分类号】:37_040_20
【页数】:6P;A4
【正文语种】:英语