ASTM F817-1983(1990) 薄膜电阻器材料及工艺特性的试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-18 02:14:18  浏览:8679   来源:标准资料网

【英文标准名称】:TestMethodforCharacterizationofFilmResistorMaterialsandProcesses
【原文标准名称】:薄膜电阻器材料及工艺特性的试验方法
【标准号】:ASTMF817-1983(1990)
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1983
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.90
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:元部件;非线绕电阻器;电子工程;特性;工艺;材料
【英文主题词】:Diffusion;Electricalconductors-semiconductors;Filmresistors;Linwoodleastsquarestest;Microcircuits;Resistanceandresistivity(electrical)-semiconductors;Resistors-film;Statisticalmethods-electroniccomponents/devices;filmresistor
【摘要】:1.1Thismethoddeterminesacharacteristicequationthatdescribestheoverallcharacteristicsofaresistormaterialandtheprocessusedtoproducethickorthinfilmresistors.1.2Thismethodprovidestwolinear,statisticalmodelsforch
【中国标准分类号】:L13
【国际标准分类号】:
【页数】:16P.;A4
【正文语种】: